Colour enhanced Scanning Electron Micrograph (SEM) showing silicon beads on the head of a pin | |
Lizenzart: | Lizenzpflichtig |
Credit: | Science Photo Library / Texas Instruments |
Bildgröße: | 3456 px × 2610 px |
Modell-Rechte: | nicht erforderlich |
Eigentums-Rechte: | nicht erforderlich |
Restrictions: |
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