Atomic force microscope sample holder

Bildnummer 11832607
Atomic force microscope sample holder
Atomic force microscope (AFM) sample holder being prepared by a researcher. Also called scanning force microscopy (SFM),an AFM uses an atomic-sized tip to probe the surface of a material. This allows a three-dimensional map of the surface to be constructed,down to the scale of individual atoms. The first AFM was invented in 1986. Photographed at Tokyo Women's University,Japan
Lizenzart: Lizenzpflichtig
Credit: Science Photo Library / Crump, Andy
Bildgröße: 5150 px × 3433 px
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