Ultra-high vacuum atomic force microscope

Bildnummer 11832602
Ultra-high vacuum atomic force microscope
Ultra-high vacuum atomic force microscope (UHV-AFM). This microscope is used to study the surfaces of objects at an atomic level. An extremely fine spring-mounted probe,that is either held in contact with the surface or just above it,slowly moves across the surface. Any deflections are recorded and converted into a computer map of the surface. Placing the object to be studied in a ultra-high vacuum greatly increases the sensitivity of the probe
Lizenzart: Lizenzpflichtig
Credit: Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory
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