Silicon wafer probe

Bildnummer 11628469
Silicon wafer probe
Silicon wafer probe being used to carry out on-wafer testing and monitoring of active silicon microchip circuitry. This is a GSG 150 model probe,where GSG stands for ground-signal-ground,and the pitch of the probe is 150 micrometres). Photographed at the National Physical Laboratory,Teddington,UK
Lizenzart: Lizenzpflichtig
Credit: Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory
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