Mass spectrometer
Bildnummer 11624075
| MODEL RELEASED. Mass spectrometer. Scientist setting up a time of flight secondary ion mass spectrometer (TOF SIMS). This instrument is used to measure the surface of a sample. An ion beam of argon clusters is used to remove molecules from the sample's surface. The molecules are ionised and accelerated towards a detector. The time it takes them to reach the detector depends on their mass. Using the argon clusters allows the chemistry of nanostructures to be reconstructed in high definition 3D molecular images. Photographed at the National Physical Laboratory,Teddington,UK | |
| Lizenzart: | Lizenzpflichtig |
| Credit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Bildgröße: | 3711 px × 4727 px |
| Modell-Rechte: | vorhanden |
| Eigentums-Rechte: | nicht erforderlich |
| Restrictions: | - |
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