Atomic force microscope
Bildnummer 11624073
| Atomic force microscope (AFM). AFMs are used to study the surfaces of objects at an atomic level. An extremely fine spring-mounted probe,that is either held in contact with the surface or just above it,slowly moves across the surface. Any deflections are recorded and converted into a computer map of the surface. This microscope is a metrological AFM (MAFM),used to calibrate other AFMs. Laser interferometers are used to measure the position of the tip relative to the sample surface. Photographed at the National Physical Laboratory,Teddington,UK | |
| Lizenzart: | Lizenzpflichtig |
| Credit: | Science Photo Library / Brookes, Andrew / National Physical Laboratory |
| Bildgröße: | 4850 px × 3638 px |
| Modell-Rechte: | nicht erforderlich |
| Eigentums-Rechte: | nicht erforderlich |
| Restrictions: | - |
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