Atomic force microscope suspension system, abstract image
Bildnummer 12553520
| Atomic force microscope suspension system, abstract image. Atomic force microscopy (AFM), also called scanning force microscopy (SFM), uses an atomic-sized tip to probe the surface of a material. This allows a three-dimensional map of the surface to be constructed, down to the scale of individual atoms. | |
| Lizenzart: | Lizenzpflichtig |
| Credit: | Science Photo Library / ARCADY ZAKHAROV |
| Bildgröße: | 5760 px × 3840 px |
| Modell-Rechte: | nicht erforderlich |
| Eigentums-Rechte: | nicht erforderlich |
| Restrictions: | - |
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